什麽是EMC？
電磁兼容性EMC（Electromagnetic Compatibility）是指設備或系統在其電磁環境中符合要求運行并不對其環境中的任何設備産生(shēng)無法忍受的電磁幹擾的能力。
EMC包括EMI(interference)和EMS(susceptibility),也就(jiù)是電磁幹擾和電磁抗幹擾。
如(rú)果産品沒有通過EMC測試，生(shēng)産出來(lái)的産品将會有以上很多的問(wèn)題無法解決，所以必須通過EMC各标準的測試以達到産品性能的完整性。
常創民(mín)用設備測試系統：
常創耐受測試系統（immunity IEC61000-4-3/6;GB17626.3/6）:
電磁輻射以幾種方式影(yǐng)響大(dà)多數電子設備，電磁環境取決于該環境内的電磁場強度（V/m），沒有先進的儀器，場強很難測量，也很難用公式來(lái)計(jì)算，需要在一個特定的環境下進行測量。射頻輻射電磁場對設備的幹擾往往是由設備操作(zuò)、維修和安全檢查等人(rén)員(yuán)在使用如(rú)無線電台、電視發射台、移動無線電發射機(jī)和各種工(gōng)業電磁輻射源（以上屬有意發射），以及電焊機(jī)、晶閘管整流器、熒光(guāng)燈工(gōng)作(zuò)時産生(shēng)的寄生(shēng)輻射（以上屬無意發射）等設備所産生(shēng)的射頻輻射幹擾。此項測試目的是建立一個共同的标準來(lái)評價電氣和電子設備的抗射頻輻射電磁場幹擾的能力。
常創耐受測試系統由世界知名品牌，信号發生(shēng)器、功率放(fàng)大(dà)器及功率計(jì)爲主體(tǐ)組成，測試頻率範圍從(cóng) 9kHz - 6GHz。完全符合标準IEC61000-4-3/6;GB17626.3/6要求。
傳導和輻射耐受及抗幹擾測試系統配置圖：
常創發射測試系統（Emission Cispr14/15/22）:
電子設備自(zì)身(shēn)都(dōu)會有電磁輻射發出，而它發出的電磁輻射是否符合标準要求需要一個标準系統進行測試。
常創發射測試系統，由一台符合CISPR16-1 标準要求的接收機(jī)爲主要測量工(gōng)具；測試頻率範圍從(cóng) 9kHz - 6GHz（40GHz）。完全符合标準Cispr22及GB9254要求。
它包括以下頻率範圍以及不同帶寬，具體(tǐ)分(fēn)爲：
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9kHz - 150kHz，200Hz； 150kHz - 30MHz，9kHz； 30MHz - 1GHz，120kHz； 而在 1GHz頻率以上，需 要在1MHz 帶寬中進行測試。 在30MHz以上的RE測試中， 測量傳感器是使用1個雙錐 對數周期天線頻率範圍從(cóng) 30MHz - 1GHz 和1個喇叭 天線頻率範圍從(cóng)1 - 18GHz。 而對于低于30MHz頻率部分(fēn) 的CE測試我們使用 LISNs （單相(xiàng)和三相(xiàng)）或信号端口， T-LISNS進行測試。 | |
傳導和輻射發射測試系統配置圖：
常創諧波及電壓波動和閃爍測量系統（IEC61000-3-2/3 GB17625.1/2）
諧波系統：
諧波測試的目的是測試EUT自(zì)身(shēn)發出的諧波電流限值，并爲其他(tā)設備發出的諧波留有适當的餘地。
電壓閃爍系統：
該測試的目的是測試EUT電源端的電壓波動和閃爍是否符合法規限值。
設備的基本功能配置圖:
常創靜(jìng)電放(fàng)電測試系統：
放(fàng)電發生(shēng)器輸出電流的典型波形
測試目的：
模拟被測物在遭受到靜(jìng)電放(fàng)電時性能是否會下降或失效，放(fàng)電分(fēn)爲直接放(fàng)電和間接放(fàng)電兩類。對導電表面采用直接接觸放(fàng)電的方式；對絕緣表面采用空氣放(fàng)電方式。接觸放(fàng)電爲首選形式，隻有在不能用接觸放(fàng)電的地方(如(rú)表面塗有絕緣層，手機(jī)鍵盤縫隙等情況)才改用空氣放(fàng)電。（該設備可(kě)輕易達到+/-30K測試等級。）
隻需要花非常少量的資金，更換内部組件(jiàn)，（圖中黑(hēi)色物體(tǐ)）和一槍頭，就(jiù)可(kě)以達到不同測試标準要求。（因爲不同測試标準擁有不同測試波形。如(rú)汽車電子測試所需波形等。）
常創haefely ecompact 4 測試系統
（EFT、SURGE、DIP、Ring wave整合測試系統 完全符合CISPR24标準需求。）
EN61000-4-4 電快(kuài)速脈沖群（EFT）
測試目的：這是一種耦合到電子設備的電源線、控制線
和信号線上的，且由許多快(kuài)速瞬變脈沖組成的脈沖群試驗。
試驗要素是瞬變的短(duǎn)上升時間、重複率和低能量。
該系統使用一個高壓發生(shēng)器，将幹擾信号注入到EUT的電
源端，再以EUT的工(gōng)作(zuò)狀态來(lái)判斷EUT的受試端口在受
到重複性快(kuài)速瞬變幹擾時功能的确定。
備注：對于信号線部分(fēn)的測試，則是通過一個偶合鉗将測試信号注入到線纜上。
EN61000-4-5 浪湧（Surge）
測試目的：測試被測物的電源線和内部連接線在經受來(lái)自(zì)開關切
換及自(zì)然界雷擊後是否會影(yǐng)響到其各項功能的一種測試。
這個測試與EFT相(xiàng)比測試幹擾信号之間相(xiàng)比間隔時間較長，但(dàn)能量非常高，可(kě)以說(shuō)這個測試就(jiù)是模拟由高能量開關和雷電變過瞬态産生(shēng)的強電. 測試方法類似于EFT, 使用一個瞬态發生(shēng)器，直接耦合到EUT供電電源上以确定被測物是否符合法規1.2/50波形要求.信号線10/700需另加模塊。
EN61000-4-11 跌落 （DIP）
測試目的：電壓瞬時跌落、短(duǎn)時中斷是由電網、變電設施的故障或負荷突然出現大(dà)的變化所引起的。在某些情況下會出現兩次或更多次連續的跌落或中斷。電壓變化是由連接到電網的負荷連續變化引起的。此項測試模拟電壓的突變效應，以便建立一種評價電氣和電子設備在經受這種變化時的抗擾性通用準則。