依據标準IEC61000-4-2/EN 61000-4-2/GB T 17626.2：靜(jìng)電放(fàng)電抗擾度試驗

靜(jìng)電放(fàng)電試驗主要檢查人(rén)或物體(tǐ)在接觸設備時所引起的放(fàng)電（直接放(fàng)電），以及人(rén)或物體(tǐ)對設備鄰近物體(tǐ)的放(fàng)電（間接放(fàng)電）時對設備工(gōng)作(zuò)造成的影(yǐng)響。靜(jìng)電放(fàng)電時可(kě)以在0.5～20ns的時間内産生(shēng)1～50A的放(fàng)電電流。雖然電流很大(dà)但(dàn)因持續時間很短(duǎn)，故能量很小。所以一般靜(jìng)電放(fàng)電不會對人(rén)産生(shēng)傷害，但(dàn)對集成電路(lù)芯片等電子産品可(kě)能産生(shēng)破壞性的危害。

  靜(jìng)電放(fàng)電試驗的測試等級爲：接觸放(fàng)電2kV，4kV，6kV，8kV；空氣放(fàng)電：2kV，4kV，8kV，15kV。

依據标準： IEC61000-4-4/GB T 17626.4：快(kuài)速瞬變電脈沖群抗擾性試驗;

脈沖群抗擾度測試，是模拟電網中衆多機(jī)械開關在切換感性負載時所産生(shēng)的幹擾。這類幹擾的特點是：成群出現的窄脈沖、脈沖的重複頻率較高（kHz～MHz級）、上升沿陡峭（ns級）、單個脈沖的持續時間短(duǎn)暫（10～100ns級）、幅度達到KV級。成群出現的窄脈沖可(kě)對半導體(tǐ)器件(jiàn)的結電容充電，當能量積累到一定程度後可(kě)引起線路(lù)或設備出錯。試驗時将脈沖疊加在電源線（通過耦合/去(qù)耦網絡）和通信線路(lù)（通過電容耦合夾），對設備形成幹擾。

受試設備（EUT）的試驗部分(fēn)主要包括設備的供電電源端口、保護接地（PE）、信号和控制端口。

依據标準

  IEC 61000-4-5/GB T 17626.5：浪湧（沖擊）抗擾性試驗

浪湧（沖擊）抗擾性試驗，是模拟自(zì)然界裡(lǐ)的雷擊（間接雷）以及供電線路(lù)中因大(dà)型開關切換所引起的電壓變化對供電線路(lù)和通信線路(lù)的影(yǐng)響。浪湧試驗規定了兩種波形（1.2/50μs和通信波10/700μs）、幅值爲0.5kV到4kV，能量特别大(dà)，對EUT的影(yǐng)響可(kě)能是破壞性的。10/700μs（俗稱通信波）适用于長距離(lí)對稱通信端口，1.2/50μs适用于電源線端口和其他(tā)信号線端口。

依據标準

IEC 61000-4-11/ GB T 17626.11：電壓暫降、短(duǎn)時中斷和電壓變化抗擾性試驗

電壓暫降和電壓中斷是由電網、電力設施的故障或負荷突然出現大(dà)的變化引起的。電壓變化是由連接到電網的負荷的連續變化引起的。如(rú)果EUT對電源電壓變化不能及時作(zuò)出反應，就(jiù)可(kě)能引發故障。

本方法适用于額定輸入電流每相(xiàng)不超過16A連接到50Hz/60Hz交流網絡的電氣和電子設備，對于電流大(dà)于16A的測試要求，由IEC 61000-4-34标準規定。

電壓暫降的測試等級以%UT（暫降後剩餘電壓爲參考電壓的百分(fēn)比）表示：0%，40%，70%，80%，120%。

短(duǎn)時中斷一般指電源完全中斷達250個周期（50Hz）或者300個周期（60Hz）電壓變化，一般指突變到70%後維持1個周期，再經過25/30個周期後恢複到參考電壓的情況。

測試儀器示意圖

一般單相(xiàng)測試設備，以選擇傳導瞬态抗幹擾綜合機(jī)最爲經濟，例如(rú)UCS500N5，UCS500N7，配置抽頭變壓器後，就(jiù)能進行測試。

PFS503N

• 獨立式測試設備

• 符合 IEC 61000-4-11 和 IEC 61000-4-34 标準的三相(xiàng)全兼容測試系統

• 适用于三角型和星型供電系統測試

• 具備6個電子開關及短(duǎn)路(lù)保護功能

• 額定電壓 3x440V，每相(xiàng)電流最大(dà)可(kě)達 100A

• 直流信号控制外置自(zì)耦變壓器