（5）雜散測試測量方法

4．測量方法

4．1 概述
   這裡(lǐ)介紹兩種雜散發射的測量方法。在方法1和方法2中必須注意，由測試所産生(shēng)的輻射不得(de)幹擾測試環境中的測試系統。同時必須注意，正确選用雜散發射标準中特别規定的功率加權功能。
方法1：用于測量輸出到被測設備（EUT）天線端口的雜散發射功率。
方法2：用于測量雜散的等效全向輻射功率（e.i.r.p），需要用到一個符合條件(jiàn)的測試場地。
   如(rú)果方法1滿足測量要求，則盡可(kě)能采用方法1。使用波導的系統應采用方法2，因爲在波導終端的轉換器件(jiàn)會帶來(lái)很多測試問(wèn)題。假若天線端口是波導法蘭，那麽在波導向同軸轉換的過程中，遠(yuǎn)端的雜散發射會被大(dà)大(dà)地衰耗。隻有在測試電纜與波導連接的一端加上特制的錐型波導器件(jiàn)，才能采用方法1測量。同樣，VLF/LF頻段的發射機(jī)也應采用方法2測量，因爲發射機(jī)、饋線、天線之間并沒有清晰的界限劃分(fēn)。
   雷達系統的測量方法ITU另有文件(jiàn)說(shuō)明（ITU-R M.1177）。因爲對雷達系統尚沒有特别完善的測量方法，必須根據雜散發射限值的具體(tǐ)要求進行實際可(kě)行的測量。

4．2方法1-輸出到天線端口的雜散發射的測量方法
   此方法無需特殊的測試場地或電波暗室，測試結果也不會受到電磁幹擾（EMI）的影(yǐng)響，但(dàn)須考慮饋線影(yǐng)響。此方法忽略了因天線失配造成的衰耗和任意雜散産物的無效輻射，還(hái)有天線本身(shēn)産生(shēng)的雜散産物。雜散發射功率測量裝置的框圖如(rú)圖1所示：

圖1 雜散發射功率測量裝置的框圖
4．2．1 直接連接法
在這種方法中，要求對所有的測量部件(jiàn)（濾波器、耦合器、電纜）分(fēn)别進行校(xiào)準，或者把這些部件(jiàn)連成一個整體(tǐ)進行校(xiào)準。不論哪種校(xiào)準，都(dōu)是用一台已校(xiào)準的、輸出電平可(kě)調的信号發生(shēng)器和測量接收機(jī)來(lái)完成。在各個頻點f處，校(xiào)準因子 定義如(rú)下：

其中 : 頻點f處的校(xiào)準因子 (dB)

:在頻點f處的輸入功率 (由信号發生(shēng)器産生(shēng)) (dBW或dBm)

: 頻點f處的輸出功率 (由測量接收機(jī)讀(dú)出) (dBW或dBm)
 校(xiào)準因子表達了所有連接在信号發生(shēng)器和測量接收機(jī)之間部件(jiàn)的插入損耗。
 如(rú)果分(fēn)别校(xiào)準連接部件(jiàn)，測量裝置的總校(xiào)準因子可(kě)由下式計(jì)算：

其中： :頻率f處的測量裝置總校(xiào)準因子 (dB)
: 頻率f處測量連接鏈中各個部件(jiàn)的校(xiào)準因子(dB)
測量過程中， (dBW或dBm)是頻率f處由測量接收機(jī)讀(dú)出的雜散發射功率，而在頻率f處實際雜散發射功率(dBW或dBm)由下式計(jì)算得(de)出：

4．2．2 替代法
這種方法不需要對連接部件(jiàn)校(xiào)準，而是先由測量儀器記錄下雜散發射功率的讀(dú)數值。然後用一台已校(xiào)準的信号發生(shēng)器替代被測設備（EUT），當測量儀器的讀(dú)數值和先前記錄值達到一緻時，信号發生(shēng)器的輸出值就(jiù)等于雜散發射的功率值。

4．3 方法2-雜散發射e.i.r.p的測量方法
雜散發射e.i.r.p的測量裝置框圖見(jiàn)圖2。

方法2中的測量必須在遠(yuǎn)場條件(jiàn)下進行，而對于很低的頻率或是多個頻率組合以及天線規格來(lái)說(shuō)，遠(yuǎn)場條件(jiàn)是很難實現的（如(rú)：天線發射14 GHz射頻信号，在140m遠(yuǎn)處才能達到遠(yuǎn)場的條件(jiàn)）。另外，測量也比較麻煩，雖然自(zì)動檢驗技術(shù)減少了一些工(gōng)作(zuò)量，但(dàn)要在各個方向和頻率上按不同極化方式測量雜散發射的e.i.r.p仍然非常耗時。

雜散發射測量裝置框圖18GHz – 40GHz(建議(yì)從(cóng)13GHz開始将系統機(jī)櫃移進暗室内測試)
4．3．1 輻射測量的測試場地
      測試場地應滿足水平極化和垂直極化場的衰減要求，即衰減量應在理(lǐ)論值的 4dB之内。測試場地還(hái)應滿足下列條件(jiàn)：地形平坦，上方沒有架空電線，附近沒有反射物，在規定距離(lí)處有足夠的空間擺放(fàng)天線，并使天線、EUT和反射物間有足夠的距離(lí)。反射物是指那些建築材料可(kě)導電的物體(tǐ)。測試場地須安裝水平金屬平面地闆。
       測試也可(kě)以在牆上覆蓋有吸波材料，無電波反射的電波暗室内進行。那麽，對電波暗室的驗收測試就(jiù)顯得(de)非常重要，主要目的是驗證室内水平極化和垂直極化場的衰減測量值是否符合 4dB的标準（詳見(jiàn)IEC/CISPR 文件(jiàn) No. 22）。
測試場地的導電的平面地闆須超出被測設備（EUT）和最大(dà)測試天線的外延1m以上，并且覆蓋被測設備（EUT）和天線之間的所有區域。地闆必須爲金屬材料，上面不允許有尺寸大(dà)于最高測試頻率所對應波長十分(fēn)之一的孔洞和裂縫。如(rú)果暗室内測試場地的衰減特性不滿足要求，則需要加大(dà)導電平面地闆的面積。對于半波暗室，同樣要滿足這些要求。
   多種測量小室也可(kě)用于雜散發射的測量，如(rú)混波室(SMC)、橫電磁波室（TEM）和吉赫TEM小室（GTEM）。但(dàn)這些新測試系統尚未廣泛地被所有的标準體(tǐ)系所接受，相(xiàng)關的技術(shù)正在做進一步的研究和驗證。

4．3．2 直接法
  在這種方法中，也要求對所有的測量部件(jiàn)（濾波器、耦合器、電纜）分(fēn)别進行校(xiào)準，或者把這些連接部件(jiàn)作(zuò)爲一個整體(tǐ)進行校(xiào)準。（參見(jiàn)4.2.1）
  自(zì)由空間條件(jiàn)下頻率f處的雜散發射的e.i.r.p， 可(kě)由下式得(de)到：

其中： : 頻率f處雜散發射在測量接收機(jī)上的功率示值 (dBW 或 dBm),與 單位相(xiàng)同 。
: 頻率f處，測量裝置的校(xiào)準因子(dB)
: 頻率f處，測量天線的增益(dB)
: 雜散發射的頻率（MHz）
: 發射天線與測量天線的距離(lí)（m）

4．3．3 替代法
  在這種方法中，需用一副已校(xiào)準的替代天線和一台信号發生(shēng)器，調整信号發生(shēng)器的輸出值使測量接收機(jī)的示值等于測量到的雜散信号值,便可(kě)得(de)出雜散發射值。
4．4 特殊箱體(tǐ)輻射的測量

  上述方法2可(kě)用于測量發射機(jī)箱體(tǐ)的雜散輻射。這種方法需用一個已校(xiào)準的終端負載替換EUT的天線，按照(zhào)上述方法2的步驟操作(zuò)，即可(kě)得(de)到箱體(tǐ)雜散輻射的e.i.r.p。終端假負載應置于一個小的獨立屏蔽殼體(tǐ)中，以防止假負載的二次輻射幹擾被測箱體(tǐ)的輻射測量。此外，連接電纜也會有輻射産生(shēng)，對測量造成不良影(yǐng)響，所以必須對此加以防範，可(kě)采用雙屏蔽電纜，也可(kě)以給電纜加裝屏蔽外殼。

  結束語：雜散發射的測量僅從(cóng)框圖看(kàn)是比較簡單的，其實能夠影(yǐng)響測量結果的因素很多，例如(rú)：EUT類型、測量接收機(jī)、天饋線、濾波器、測試場地等，還(hái)有參考帶寬、必要帶寬、分(fēn)辨帶寬、功率加權功能的選擇等，都(dōu)會對測量造成影(yǐng)響。所以，要正确測量雜散發射的量值，除了要弄明白(bái)各種相(xiàng)關概念外，還(hái)須對測量中用到的各種儀表、連接器件(jiàn)、天線、被測設備、測量場地等的特性、參數了如(rú)指掌，認真考慮所有相(xiàng)關因素後，才能得(de)到準确的測量結果。

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